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【软件讲坛】NEC北美研究院陈正长研究员来访学院

发布时间:2019-04-16 16:49:17 发布者:学生科(钟) 作者: 查看:461

4月16日,应学院智能信息技术实验室主任田文洪教授邀请,NEC北美研究院陈正长研究员做客软件讲坛,开展主题为《Graph-based Anomaly Detection Algorithms and Their Applications(图异常检测算法与应用)》的学术报告,学院部分教师和博士、硕士研究生以及来华留学生参加讲座,田文洪主持讲座。

学院院长周世杰教授致欢迎辞,代表学院热烈欢迎陈正长的到访,并向他介绍了学院的办学特色、科学研究、师资队伍、对外合作与交流等基本情况。

陈正长感谢学院的热情邀请,他在本次讲座中重点介绍图异常检测算法包括基于Graph Neural Networks的检测算法和Graph Knowledge Transfer方法。同时结合工业界研究实验室工作的经历,介绍Graph-based Anomaly Detection算法在工业界的多个典型应用。陈正长表示,基于Graph的异常检算法广泛的应用在很多领域,例如企业安全网络或气象预测系统中。这种算法主要的目标是在高维且非线性关联的数据中挖掘具有预测性的模式用于异常检测。但在大型复杂动态系统(比如企业安全网络或气象预测系统)中如何在高维且非线性关联的数据中挖掘具有预测性的模式用于异常检测仍面临诸多挑战。

陈正长老师的精彩报告,赢得了在场师生们的热烈掌声。在互动环节,他耐心积极为大家答疑解惑并与大家亲切合影留念。会后,学院党委书记罗光春教授,院长助理、学生科科长洪磊老师等与陈正长就人才培养、科研学术、合作交流等方面开展洽谈沟通,探讨进一步合作。

本次活动由信息与软件工程学院主办,智能信息技术实验室研究生党支部承办。

嘉宾简介:

   陈正长博士,目前是NEC北美研究院Research Scientist和美国Northwestern University兼职Research Assistant Professor,从事数据挖掘、人工智能和机器学习等领域的研究工作;在加入NEC前,在美国Northwestern University从事博士后的研究。2012年在North Carolina State University获得博士学位。已在国际期刊和国际会议 (包括SIGKDD, AAAI, IJCAI, SC, CIKM, SDM等) 上发表超过50篇论文并获得KDD2016 Best Research Paper Runner-up Award。同时还是TKDE、PLOS ONE等十多个国际期刊的编委或审稿人和SIGKDD、AAAI、IJCAI等十多个国际会议的程序委员。

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